以下是一些常见的微硅粉细度检测方法：
筛分法
称取一定量的微硅粉，将其缓缓倒入相应目数的筛网里，如320目筛网，用清水均匀冲洗，直至筛网里的微硅粉不再落下，然后取出筛网内残留的微硅粉烘干、称量，通过公式计算粗细通过率，从而得出微硅粉的细度.
激光粒度分析法
利用激光在样品中的散射光和衍射光的大小及强度，分析样品中颗粒的粒径分布情况，可准确测量微硅粉的细度，能反映出不同粒径区间的颗粒占比，操作简便、快速，结果准确性高，广泛应用于科研和工业生产.
透射电子显微镜法
通过电子束穿透微硅粉样品，观测颗粒的形貌和粒径大小，可直观地看到微硅粉颗粒的微观形态和尺寸分布，能精确测量单个颗粒的粒径，但制样要求高、操作复杂、检测速度慢，常用于对微硅粉细度要求极高或需要深入研究颗粒微观结构的情况.
气体吸附法
在特定温度和压力下，使气体吸附在微硅粉样品表面，通过测量吸附气体的量来计算微硅粉的比表面积，进而反映其细度，适用于比表面积较大的微硅粉，可提供有关微硅粉表面特性和细度的间接信息.
沉降法
依据微硅粉颗粒在液体中的沉降速度与粒径大小的关系来测定细度，颗粒粒径越大，沉降速度越快，通过测量不同时间点的沉降量，计算出颗粒的粒径分布和平均粒径，操作简单，但测量精度相对较低，受颗粒形状和液体性质影响大。
